玉崎科學日本SANKO三高 SL-200E膜厚計電磁式模擬
玉崎科學日本SANKO三高 膜厚計電磁式模擬

高性能小型二極型...甚至可以測量狹小的地方和內部

玉崎科學日本SANKO三高 膜厚計電磁式模擬

玉崎科學日本SANKO三高 膜厚計電磁式模擬

高性能小型二極型...甚至可以測量狹小的地方和內部

特長

小探頭適用于測量平面、曲面、圓棒、零件、復雜形狀、內表面的局部涂層厚度。

規格

測量范圍

Ⅰ：0～50μm Ⅱ：0～500μm

測量精度

均勻表面上±1μm或指示值的±2%

電源

DC：AA 電池 (1.5V) x 8

AC：100V，50/60Hz（使用交流適配器）

使用溫度

0～40℃（無凝結）

飛機尺寸

190(寬)×90(高)×120(深)毫米

重量

1.8公斤

配件

標準厚板、AC適配器、肩包

探測

2極型，磁極直徑φ2.5，磁極間距5mm

尺寸：10(W) x 17(H) x 21(D)mm

測量范圍
: 0 ～ 50 µm : 0 ～ 500 µm
測量精度
: 均勻表面上±1 µm 或示值的±2%
探頭
2 極型、磁極直徑 φ2.5、極間距 5 mm 尺寸 : 10 (W ) × 17 (H) × 21(D)mm
電源
DC: AA 電池 (1.5V) x 8 AC: 100V, 50/60Hz (使用 AC 適配器)
工作溫度
0 至 40℃ (無冷凝)
尺寸 重量
190( W) x 90(H) ) x 120(D)mm, 1.8kg
配件：
標準厚板、AC適配器、肩包。封面