玉崎科學EMIC愛美克512-D/A小型振動試驗設備 玉崎科學EMIC愛美克小型振動試驗設備 緊湊型振動試驗設備用作振動分析的激勵源，例如校準振動計和測量機械阻抗，并用于小型和輕型試件的抗振性測試。 512-D 和 513-D 振動發生器是第一個在其運動部件中使用陶瓷的振動發生器，可以產生高達 30kHz 的高頻振動（513-D 為 24kHz）。 用作高精度振動計校準、機械阻抗測量和振動分

玉崎科學EMIC愛美克512-D 小型振動試驗設備 玉崎科學EMIC愛美克小型振動試驗設備 緊湊型振動試驗設備用作振動分析的激勵源，例如校準振動計和測量機械阻抗，并用于小型和輕型試件的抗振性測試。 512-D 和 513-D 振動發生器是第一個在其運動部件中使用陶瓷的振動發生器，可以產生高達 30kHz 的高頻振動（513-D 為 24kHz）。 用作高精度振動計校準、機械阻抗測量和振動分

玉崎科學EMIC愛美克512-A/A 小型振動試驗設備 玉崎科學EMIC愛美克小型振動試驗設備 緊湊型振動試驗設備用作振動分析的激勵源，例如校準振動計和測量機械阻抗，并用于小型和輕型試件的抗振性測試。 512-D 和 513-D 振動發生器是第一個在其運動部件中使用陶瓷的振動發生器，可以產生高達 30kHz 的高頻振動（513-D 為 24kHz）。 用作高精度振動計校準、機械阻抗測量和振動分

玉崎科學EMIC愛美克512-A小型振動試驗設備 玉崎科學EMIC愛美克小型振動試驗設備 緊湊型振動試驗設備用作振動分析的激勵源，例如校準振動計和測量機械阻抗，并用于小型和輕型試件的抗振性測試。 512-D 和 513-D 振動發生器是第一個在其運動部件中使用陶瓷的振動發生器，可以產生高達 30kHz 的高頻振動（513-D 為 24kHz）。 用作高精度振動計校準、機械阻抗測量和振動分

玉崎科學EMIC愛美克513-D/A小型振動試驗設備 玉崎科學EMIC愛美克小型振動試驗設備 緊湊型振動試驗設備用作振動分析的激勵源，例如校準振動計和測量機械阻抗，并用于小型和輕型試件的抗振性測試。 512-D 和 513-D 振動發生器是第一個在其運動部件中使用陶瓷的振動發生器，可以產生高達 30kHz 的高頻振動（513-D 為 24kHz）。 ● 作為高精度振動計校準、機械阻抗測量和振

玉崎科學EMIC愛美克513-D小型振動試驗設備 玉崎科學EMIC愛美克小型振動試驗設備 緊湊型振動試驗設備用作振動分析的激勵源，例如校準振動計和測量機械阻抗，并用于小型和輕型試件的抗振性測試。 512-D 和 513-D 振動發生器是第一個在其運動部件中使用陶瓷的振動發生器，可以產生高達 30kHz 的高頻振動（513-D 為 24kHz）。 ● 作為高精度振動計校準、機械阻抗測量和振

玉崎科學EMIC愛美克513-B/A 小型振動試驗設備 玉崎科學EMIC愛美克小型振動試驗設備 緊湊型振動試驗設備用作振動分析的激勵源，例如校準振動計和測量機械阻抗，并用于小型和輕型試件的抗振性測試。 512-D 和 513-D 振動發生器是第一個在其運動部件中使用陶瓷的振動發生器，可以產生高達 30kHz 的高頻振動（513-D 為 24kHz）。 ● 作為高精度振動計校準、機械阻抗測量和振

玉崎科學EMIC愛美克513-B小型振動試驗設備 玉崎科學EMIC愛美克小型振動試驗設備 緊湊型振動試驗設備用作振動分析的激勵源，例如校準振動計和測量機械阻抗，并用于小型和輕型試件的抗振性測試。 512-D 和 513-D 振動發生器是第一個在其運動部件中使用陶瓷的振動發生器，可以產生高達 30kHz 的高頻振動（513-D 為 24kHz）。 ● 作為高精度振動計校準、機械阻抗測量和振