日本OTSUKA玉崎科學供應大冢FE-300光學膜厚量測儀$n日本OTSUKA玉崎科學供應大冢光學膜厚量測儀$n這是一款小型、低成本的膜厚計，采用高精度光學干涉法測量膜厚，操作簡單。$n我們采用一體式外殼，將必要的設備存儲在主體內，實現穩定的數據采集。$n盡管價格低廉，但也可以通過獲得絕對反射率來分析光學常數。

OTSUKA日本大塚電子高靈敏度光譜HS-1000輻射計$nOTSUKA日本大塚電子高靈敏度光譜輻射計$n這是一款光譜輻射亮度計，可以從低亮度到高亮度進行高速且高精度的測量。$n利用熱電冷卻線性陣列傳感器，大冢電子光譜光學設計和信號處理電路在寬亮度和波長范圍內實現了低噪聲、高精度測量。

現貨日本otsukae日本進口多通道光譜儀$n多功能多通道光譜探測器，支持紫外到近紅外區域。頻譜測量僅需 5ms 即可完成。用作標準設備的光纖使其可以與各種測量系統一起使用，而無需樣品類型。除了顯微光譜、光源發射、透射/反射測量之外，與軟件結合，還可以進行物體顏色評估、膜厚測量等。

大塚電子ELSZneoSE粒度測量系統陶瓷色料半導體領域 大塚電子粒度測量系統陶瓷色料半導體領域 特征 可根據應用添加功能（分子量測量、顆粒濃度測量、微流變測量、凝膠網絡結構分析、粒徑多角度測量）。 使用標準流通池連續測量粒徑和 zeta 電位 能夠測量從稀溶液到濃溶液 (~40%) 的各種濃度的顆粒尺寸和 zeta 電位 可以在高鹽濃度下測量扁平樣品的 Zeta 電位。 可在 0 至 90℃

現貨OTSUKA大塚電子界達電位粒徑ELSZneo分析儀 現貨OTSUKA大塚電子界達電位粒徑分析儀 [ELSZneo 將光散射物理性質評估 　　　　推向新階段] 這 是 ELSZ 系列的頂級型號，除了測量稀溶液到濃溶液中的 Zeta 電位和粒徑之外，還能夠測量分子量。 作為一項新功能，我們采用了多角度測量來提高粒度分布的分離能力。它還可以進行顆粒濃度測量、微觀流變測量和凝膠網絡結構分析。 新型