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FE-300日本OTSUKA玉崎科學供應大冢光學膜厚量測儀


          

          

          FE-300日本OTSUKA玉崎科學供應大冢光學膜厚量測儀
          

          日本OTSUKA玉崎科學供應大冢FE-300光學膜厚量測儀$n日本OTSUKA玉崎科學供應大冢光學膜厚量測儀$n這是一款小型、低成本的膜厚計，采用高精度光學干涉法測量膜厚，操作簡單。$n我們采用一體式外殼，將必要的設備存儲在主體內，實現穩定的數據采集。$n盡管價格低廉，但也可以通過獲得絕對反射率來分析光學常數。
          

          

          

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          更新日期：2024-08-29
          

          

          

          

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